更新時間：2024-10-25
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日本日立EA1000AIII/EA1280臺式光譜儀介紹：
日本日立EA1000AIII/EA1280臺式光譜儀是日立專為RoHS有害物質(zhì)限制設(shè)計的XRF分析儀快速融入，15年來一直受到信任，為需要遵守本指令的企業(yè)提供一致的結(jié)果工藝技術。通過對有害物質(zhì)的簡單快速的測量發揮作用，您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。
產(chǎn)品特點：
操作方便
可自動采樣
靈活校準(zhǔn)以適應(yīng)新的RoHS標(biāo)準(zhǔn)
自動突出顯示您正在分析的內(nèi)容以獲得可瀏覽的結(jié)果
快速測量
大樣品艙滿足各種樣品
視聽測量指示器
添加鍍層和元素分析的選項
主要功能：適用于RoHS篩查和通用分析的高性能多用途XRF光譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域：?快速RoHS/ELV合規(guī)性篩查?無鹵素合規(guī)性篩查?薄膜分析?快速材料識別?多用途材料分析
RoHS拓展元素：Sb系統、Sn十分落實、Cl（*較以往機型檢測性能增強）
測量范圍：13Al～ 92U
測量大氣：空氣
樣品測量：單一位置或12位置轉(zhuǎn)盤
測量光斑尺寸：5 mm ?準(zhǔn)直器（標(biāo)準(zhǔn)）；1和3 mm ?（可選調解製度；程控）
常規(guī)RoHS篩查時間：塑料＜35秒深入，黃銅＜170秒
樣品觀察：彩色CCD相機
檢測器：高性能SDD
樣品艙尺寸：304（寬）×304（深）×110（高）mm
主要功能：適用于RoHS篩查和通用分析的入門級XRF光譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域：?RoHS/ELV合規(guī)性篩查?薄膜分析?材料識別?多用途材料分析
RoHS拓展元素：Sb、Sn覆蓋範圍、Cl
測量范圍：13Al～ 92U
測量大氣：空氣
樣品測量：單一位置或12位置轉(zhuǎn)盤
測量光斑尺寸：1一站式服務、3和5 mm ?（標(biāo)準(zhǔn)；程控）
常規(guī)RoHS篩查時間：塑料＜70秒前沿技術，黃銅＜340秒
樣品觀察：彩色CCD相機
檢測器：Si - PIN二極管
樣品艙尺寸：370（寬）×320（深）×120（高）mm
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