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我的位置:首頁(yè)  >  產(chǎn)品中心  >  日本NF電子測(cè)試儀器  >  小型LCR測(cè)試儀  >  ZM2371/ZM2372/ZM2376日本原裝NF高精度LCR測(cè)試儀
日本原裝NF高精度LCR測(cè)試儀

小型LCR測(cè)試儀調整推進,日本原裝NF高精度LCR測(cè)試儀 ZM2371的測(cè)試頻率是基本精度 0.08%,頻率范圍 1mHz~100kHz , 測(cè)量速度 較快2ms; ZM2372,在ZM2371的功能上4端子的接觸檢查功能倍增效應,處理機(jī)接口; ZM2376LCR基本精度 0.08%責任,頻率范圍 1mHz~5.5MHz , 測(cè)量速度 較快2ms,接觸檢查數據、低容量檢查功能效率和安。

  • 產(chǎn)品型號(hào):ZM2371/ZM2372/ZM2376
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-07-03
  • 訪  問(wèn)  量:6582
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產(chǎn)品詳情

日本原裝NF高精度LCR測(cè)試儀ZM2371/ZM2372/ZM2376介紹:
日本原裝NF 高精度LCR測(cè)試儀ZM2371測(cè)量范圍從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz,測(cè)量精度0.08 %邁出了重要的一步。測(cè)量速度 快2ms產能提升。實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量,可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途品牌。

測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測(cè)量?jī)xZM系列
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量適應能力,可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途。

 

偏差小的高再現(xiàn)性 測(cè)量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376節點,對(duì)1nF的電容反復(fù)測(cè)量200次后得到的結(jié)果快速增長。
使用ZM2376,測(cè)量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。

寬頻測(cè)量范圍和高分辨率設(shè)定

ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz~100kHz又進了一步、ZM2376覆蓋了1mHz~5.5MHz的頻率范圍。并可設(shè)定5位數(shù)/6位數(shù)的分辨率*生產製造,因此除了在實(shí)際使用頻率對(duì)各種部件進(jìn)行測(cè)量外拓展基地,還可以對(duì)參數(shù)的頻率依賴性進(jìn)行評(píng)價(jià)綜合措施。
*ZM2371/ZM2372:5位數(shù)、ZM2376:6位數(shù)


廣域的測(cè)量電平和ALC功能

對(duì)10mVrms~5Vrms/1μArms~200mArms的測(cè)量信號(hào)電平可進(jìn)行3位數(shù)分辨率的設(shè)置處理。另外攜手共進,利用ALC(自動(dòng)電平控制)功能可以設(shè)置定電壓/定電流驅(qū)動(dòng),因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅(qū)動(dòng)信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)自然條件,可實(shí)現(xiàn)高再現(xiàn)性的測(cè)量擴大公共數據。


快速測(cè)量

測(cè)量時(shí)間可以在RAP (Rapid),F(xiàn)AST體系流動性,MED (Medium)設計標準,SLOW,VSLO (Very Slow) 這5種等級(jí)切換助力各行。選擇RAP經過,可以實(shí)現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測(cè)量互動互補『诵募夹g體系?焖佟⒏呔鹊腖CR測(cè)量?jī)x有助于提高生產(chǎn)線及自動(dòng)檢查裝置的測(cè)量效率力度。


高精度

實(shí)現(xiàn)了基本精度0.08%新產品、顯示分辨率多6位數(shù)的高精度測(cè)量。值得信賴的測(cè)量在從zuixian端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選持續發展,對(duì)提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)*的更加廣闊。


DC偏置電壓
ZM2371/ZM2372內(nèi)置了0~+2.5V、ZM2376內(nèi)置了0~+5V的DC偏置用電源設計,可以測(cè)量電解電容等極性零部件。
ZM2376還可以快速測(cè)量鋰離子電池(單電池)等的阻抗。
另外善謀新篇,如果使用選購(gòu)的DC電壓偏置適配器*推進高水平,可在試樣上加載
±40V的偏置電壓,測(cè)量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴性等供給。
*選購(gòu)
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直流電阻 (DCR) 測(cè)量

可測(cè)量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻不斷發展。可以同時(shí)在主參數(shù)中顯示電感機遇與挑戰,在副參數(shù)中顯示直流電阻的測(cè)量值高效節能。

接觸檢查功能

日本原裝NF高精度LCR測(cè)試儀ZM2372

4端子接觸檢查
為了防止因測(cè)量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測(cè)量或錯(cuò)誤分選,ZM2372采用4個(gè)測(cè)量端子來(lái)進(jìn)行接觸檢查判斷取得明顯成效,由此排除不良產(chǎn)品基地。
(進(jìn)行接觸檢查的額外時(shí)間 4ms)
 

● ZM2376
接觸檢查、低容量檢查
檢測(cè)異常的低容量及電壓、電流約定管轄,無(wú)需額外時(shí)間就能檢測(cè)出不良接觸雙向互動。




觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)

可以只在接觸期間驅(qū)動(dòng)試樣的功能。
可以降低在測(cè)量大容量電容時(shí)新創新即將到來,由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷生產效率。在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量履歷特性的試樣,測(cè)量值會(huì)出現(xiàn)較大的誤差設計能力。如使用觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)的話更合理,加在各試樣上的驅(qū)動(dòng)信號(hào)和取得信號(hào)的時(shí)間以及相位關(guān)系都是固定的,可以抑制測(cè)量值的誤差適應性,大幅縮短測(cè)量時(shí)間顯著。



偏差顯示

預(yù)先設(shè)置測(cè)量部件的顯示值,可顯示與預(yù)設(shè)值的偏差更優美、偏差%發展的關鍵。 可應(yīng)用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗(yàn)等。



比較器

主參數(shù)大可分為14個(gè)*的BIN類別求得平衡,在副參數(shù)中可以對(duì)設(shè)定好的1組上下限值的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分選。測(cè)量值可通過(guò)偏差或偏差%進(jìn)行分選道路,判定結(jié)果通過(guò)處理器接口*輸出面向。另外,根據(jù)判定結(jié)果空間廣闊,有時(shí)會(huì)發(fā)出嗶噗的聲音合作關系。
在遠(yuǎn)程控制中,使用限值判定功能研學體驗,也可以對(duì)主參數(shù)結構不合理、副參數(shù)的上下限值(各1組)進(jìn)行判定。
*ZM2371:多分9類深刻內涵,未配備處理器接口競爭力。



復(fù)合測(cè)量 (ZM 2376)

復(fù)合測(cè)量是指對(duì)一個(gè)試樣多可32個(gè)步驟的測(cè)量條件測(cè)量,綜合的進(jìn)行合格判定的功能推進一步√剿鲃撔??稍O(shè)定每個(gè)步驟的測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平帶動擴大、內(nèi)部DC偏壓前來體驗、測(cè)量參數(shù)等,對(duì)主參數(shù)的上下限值1組實現了超越、副參數(shù)的上下限值1組進(jìn)行測(cè)量和限值判定發揮重要帶動作用。
*ZM2376*的功能。



接口

標(biāo)配遠(yuǎn)程控制用的各種接口。無(wú)需追加選購(gòu)件就可對(duì)應(yīng)生產(chǎn)線嵌入及自動(dòng)檢查系統(tǒng)等明確了方向。

 

接口 ZM2371 ZM2372 ZM2376
USB
RS232
GPIB -
LAN - - ○(可選)
處理器 -
  • 補(bǔ)正功能(開路補(bǔ)正去完善,短路補(bǔ)正,負(fù)載補(bǔ)正初步建立,電纜線補(bǔ)正)
  • 設(shè)置項目、補(bǔ)正值存儲(chǔ)(32組、保存在不揮發(fā)性儲(chǔ)存中重要方式、可切換)
  • 監(jiān)視顯示(電壓綜合運用、電流)
  • 放電保護(hù)
  • 樣板程序(C#、VB)
  • 標(biāo)配LabVIEW驅(qū)動(dòng)<ZM2371/ZM2372>
  • IVI計(jì)測(cè)器驅(qū)動(dòng)(在LabVIEW的系統(tǒng)上自動(dòng)生成LabVIEW驅(qū)動(dòng))<ZM2376>
  •  

嵌入部件的生產(chǎn)線增產、分選裝置中脫穎而出。
快速度2ms、偏差小的測(cè)量的方法、抑制連接試樣電纜造成影響的補(bǔ)償功能積極影響、比較器及接觸檢查*
等功能,并且還配備了自動(dòng)分選用處理器接口*生產創效,足以應(yīng)對(duì)各種生產(chǎn)線需求進一步提升。
*ZM2371未配備。

 

項(xiàng)目

ZM2371

ZM2372

ZM2376

測(cè)量參數(shù)   主參數(shù):|Z|緊密協作、|Y|提供有力支撐、 L、 C、 R越來越重要、 G
  副參數(shù): Q、 D就能壓製、 θ邁出了重要的一步、 X、 B發揮、 Rs品牌、 Rp、 G設施、 Lp保持穩定、 Rdc
測(cè)量頻率 1 mHz~100 kHz 1 mHz~5.5 MHz

基本精度

0.08 %

測(cè)量信號(hào)電平

10mVrms~5Vrms、1μArms~200mArms
內(nèi)部DC偏置 0~+2.5V 0~+5V
測(cè)量時(shí)間 1kHz 快2ms
1MHz 快2ms
定電壓/
定電流驅(qū)動(dòng)(ALC)
接觸檢測(cè) ○(4端子)
低電容檢測(cè)
比較器 ○(9分類) ○(14分類) ○(14分類)
復(fù)合測(cè)量 ○(32步驟)
處理器接口
 

嵌入部件的生產(chǎn)線能力、分選裝置中。
快速度2ms、偏差小的測(cè)量長足發展、抑制連接試樣電纜造成影響的補(bǔ)償功能紮實做、比較器及接觸檢查*
等功能,并且還配備了自動(dòng)分選用處理器接口*,足以應(yīng)對(duì)各種生產(chǎn)線需求支撐作用。

 


快速測(cè)量鋰離子電池的阻抗穩步前行。
ZM2376的內(nèi)部DC偏置電壓大可設(shè)置為+5V,因此可以測(cè)量電動(dòng)勢(shì)超過(guò)3V的鋰離子電池(單電池)著力提升。
另外指導,可從1mHz的低頻率開始測(cè)量,因此可以對(duì)電池的內(nèi)部阻抗進(jìn)行詳細(xì)評(píng)價(jià)動手能力。

標(biāo)配了可以進(jìn)行各種測(cè)量條件設(shè)定及獲取服務品質、顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的軟件。
可獲得CSV文件形式的測(cè)量數(shù)據(jù)充分,方便在研究開發(fā)中的大量數(shù)據(jù)的處理過程。此外,可通過(guò)掃頻測(cè)量融合,對(duì)應(yīng)阻抗 頻率特性的測(cè)量進一步完善。

 

 

 

2323A 直接連接型測(cè)試夾具

對(duì)于帶有引線的電子元件,可直接插入本測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)量提升。無(wú)論是平行引線還是逆向引線的元件,勿須彎曲引線即可測(cè)試


 

2324 四端子鱷魚夾測(cè)試引線

采用四端子對(duì)法影響,對(duì)于低阻抗的四端子元件進(jìn)行測(cè)試時(shí)所采用的測(cè)試引線,其電流供給與電壓測(cè)量分別使用不同的端子競爭力。


 

ZM2391 三端子鱷魚夾測(cè)試引線

備有簡(jiǎn)易測(cè)量用的三端子型測(cè)試引線技術先進。


 


2325AL

2325A(L/M)開爾文夾測(cè)試引線

這是用兩個(gè)夾具、能連接至四個(gè)端子的測(cè)試引線優勢。對(duì)于大型或特殊形狀、并難于插入直接連接型測(cè)試夾具的電子元件,可使用本測(cè)試引線∑仿?,F(xiàn)備有標(biāo)準(zhǔn)L型和配備小型夾具的M型可供選用。

[M 型]

[L 型]


 

ZM2392 開爾文夾測(cè)試引線

備有簡(jiǎn)易測(cè)量用的測(cè)試引線推進高水平。


 

2326A 芯片元件用的測(cè)試引線

鑷狀測(cè)試引線使表面貼裝芯片等元件的測(cè)量更加方便開展面對面。其頂端的測(cè)量觸點(diǎn)是可裝卸的。


 

ZM2393 芯片測(cè)試夾具

本測(cè)試夾具用于測(cè)量與線路板表面直接連接使用的SMD(表面貼裝器件)/芯片元件不斷發展。其特點(diǎn)是雜散電容小便利性、零點(diǎn)校正容易。   
 
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